電子機器の落下解析
携帯電話落下
携帯電話落下（内部）
ADVENTUREClusterは落下解析にも対応しております。本解析は、携帯電話を落下させた際の変形具合を評価するために落下時の衝撃応力を計算し、応力伝達を解析しました。落下解析は陽解法で実施することが多いですが、ADVENTUREClusterでは落下解析を陰的動解析で計算します。1ステップの計算でマトリックスを解くため、計算量は陽的動解析より多くなりますが、時間ステップに関してクーラン条件の縛りがないことから、計算時間が長くなる解析でも計算時間を短くして解析することが可能です。
解析概要
| 解析対象 | 携帯電話 |
|---|---|
| 解析項目 | 落下解析 |
| メッシュ総数／部品点数 | 700万自由度／97部品 |
|---|---|
| 計算時間 | 21時間 |
従来の課題／解析背景
部品点数が多いため規模が大きくなる
静解析・動解析で異なるメッシュ、ソルバを使用する手間がかかる
シェルやヘキサ要素を使用する際、メッシュ作成の工数が増大する
解析ニーズ
内部形状までソリッドで断面を評価したい
メッシュ作成工数を短くしたい
計算時間を短くしたい
メリット
ソリッド要素で落下解析が可能（陰解法）
プリ処理工数の削減、計算時間は並列効率でカバー
アセンブリ解析することで内部に応力伝播が解析可能