ADVENTUREClusterEV/HEV化で重要性が高まる電池や電子基板をシミュレーション
電池領域での大規模接触計算における構造解析
| CAD | CAE | 備考 | |
|---|---|---|---|
Cell |
部分拡大図(断面)
|
![]() |
|
Module |
上部カバーを非表示
|
上部カバーを非表示/上部カバーを表示
|
|
Battery Pack |
上部カバーを非表示
|
上部カバーを非表示/上部カバーを表示
|
※Moduleは外装のみ(Collaboでマッピング) |
多層の電子基板の熱変形解析
微細構造を高速に解析

-

ソルダーレジスト
-

銅材
-

絶縁材
| 層数 | 17層 |
|---|---|
| 節点数 | 約107万節点 |
| 解析手法 | 静解析 |
| 解析時間 | 3時間35分(22並列) |
BGAのはんだボール疲労寿命評価


-
初期き裂(1回繰り返し時)[Number of Cycles]

-
12回繰り返し時 [Number of Cycles]

-
25回繰り返し時 [Number of Cycles]

-
50回繰り返し時 [Number of Cycles]

-
62回繰り返し時 [Number of Cycles]

| 節点数 | 約230万 |
|---|---|
| 解析手法 | 疲労き裂進展解析 |






