解析事例

ADVENTUREClusterEV/HEV化で重要性が高まる電池や電子基板をシミュレーション

電池領域での大規模接触計算における構造解析

CAD CAE 備考

Cell

部分拡大図(断面)

  • 部品点数:44点
  • 節点数:約223万節点
  • 解析手法:静解析(三点曲げ)
  • 解析時間:約1時間(48並列)

Module

上部カバーを非表示

上部カバーを非表示/上部カバーを表示

多部品の大規模解析も短時間で解析可能
  • 部品点数:389点
  • 節点数:約1859万節点
  • 解析手法:非定常熱伝導解析
  • 解析時間:約50分(48並列)

Battery Pack

上部カバーを非表示

上部カバーを非表示/上部カバーを表示

  • 部品点数:35点
  • 節点数:約288万節点
  • 解析手法:非定常熱伝導解析
  • 解析時間:約1分15秒(48並列)

※Moduleは外装のみ(Collaboでマッピング)

多層の電子基板の熱変形解析

微細構造を高速に解析

  • ソルダーレジスト

    ソルダーレジスト

  • 銅材

    銅材

  • 絶縁材

    絶縁材

層数 17層
節点数 約107万節点
解析手法 静解析
解析時間 3時間35分(22並列)

BGAのはんだボール疲労寿命評価

  • 初期き裂(1回繰り返し時)[Number of Cycles]

  • 12回繰り返し時 [Number of Cycles]

  • 25回繰り返し時 [Number of Cycles]

  • 50回繰り返し時 [Number of Cycles]

  • 62回繰り返し時 [Number of Cycles]

節点数 約230万
解析手法 疲労き裂進展解析

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